No experimento de análise de fases frágeis por Difração de Raios X (DRX), a posição e intensidade dos picos de difração podem ser determinadas através dos seguintes métodos:

Determinando a posição dos picos de difração

 

Cálculo baseado na equação de Bragg: De acordo com a equação de Bragg, onde é um número inteiro, é o comprimento de onda dos raios X, é o espaçamento interplanar e é o ângulo de difração. Dado o comprimento de onda de raios X conhecido e o ângulo de difração medido experimentalmente, o espaçamento interplanar pode ser calculado, e então os planos cristalinos correspondentes dos picos de difração podem ser determinados, obtendo assim a posição dos picos de difração. Diferentes fases frágeis possuem estruturas cristalinas específicas e espaçamentos interplanares. Ao comparar os espaçamentos interplanares calculados com os dados padrão conhecidos, pode auxiliar na identificação das fases frágeis.

Comparação com cartões padrão: Use bancos de dados padrão, como os cartões Powder Diffraction File (PDF) do Centro Internacional de Dados de Difração (ICDD). Compare os padrões de XRD obtidos no experimento com as posições dos picos de difração nos cartões padrão para encontrar as fases cristalinas correspondentes, determinando assim as fases cristalinas correspondentes às posições dos picos de difração e os parâmetros cristalográficos correspondentes.

Análise usando software profissional: Com a ajuda de software profissional de análise XRD, como Jade, HighScore Plus, etc. Esses softwares podem identificar e marcar automaticamente as posições dos picos de difração. Ao realizar o processamento de busca de pico nos padrões, os valores dos ângulos de cada pico de difração podem ser determinados com precisão e, em seguida, os planos e fases cristalinas correspondentes podem ser identificados.

 

 

 

 

 

 

 

Propriedade de resistência geral extra alta NV F500
Nota		Propriedade Mecânica			Teste de impacto Charpy V
	Grossura	Colheita	Tração	Alongamento	Grau	Energia 1	Energia 2
NV F500	milímetros	MPa mínimo	MPa	% mínimo	-60	J	J
	t Menor ou igual a 50	500	610-770	16%		33	50
	50＜t Menor ou igual a 70	500	610-770	16%		33	50
	70＜t Menor ou igual a 150	500	610-770	16%		33	50

 

 

Determinando a intensidade dos picos de difração

 

Medição Direta: Leia os valores de intensidade dos picos de difração diretamente do padrão XRD. A ordenada no padrão geralmente representa a intensidade de difração, expressa em unidades como taxa de contagem ou intensidade relativa. Ao medir, é necessário selecionar uma faixa de medição apropriada e realizar a correção da linha de base para garantir a precisão dos valores de intensidade. Geralmente, a altura ou área integrada do pico de difração pode ser usada como uma medida da sua intensidade, mas a área integrada pode refletir com mais precisão a intensidade do pico de difração, especialmente para picos de difração alargados ou assimétricos.

Cálculo da Intensidade Relativa: Calcule a intensidade relativa entre diferentes picos de difração. A intensidade relativa refere-se à razão entre a intensidade de um determinado pico de difração e a intensidade do pico de difração mais forte. Ao comparar as intensidades relativas de diferentes picos de difração, a estrutura cristalina e as informações de composição das fases frágeis podem ser analisadas com mais precisão, porque diferentes fases cristalinas possuem leis de distribuição específicas de intensidade relativa dos picos de difração.

Considerando a influência de fatores experimentais: Ao determinar a intensidade dos picos de difração, é necessário considerar a influência das condições experimentais na intensidade, como a intensidade dos raios X, o método de preparação da amostra, a espessura da amostra e os parâmetros geométricos do instrumento. Para obter dados de intensidade precisos e confiáveis, múltiplas medições precisam ser realizadas sob as mesmas condições experimentais, e a média dos dados precisa ser calculada para reduzir a influência de erros experimentais.

 

 

 

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